分析仪器

  • 色谱气源的研制SPQ-01型电解氢气发生器

    <正> 一、概述电解水制取氢气的方法已有很久的历史。在工业生产上早有成熟的方法和设备。用电解氢气作为色谱仪的载气或燃气也有报导,一般多采用单级圆筒型结构[1]。这种形式存在结构笨重、发热严重等问题。近年来采用钯阴极电解氢气发生器作为色谱气源很有前途[2],但价格昂贵,工艺复杂,技术被美国垄断,目前尚

    1974年02期 1-4页 [查看摘要][在线阅读][下载 188K]
  • 色谱气源的研制SPQ-01型电解氢气发生器

    <正> 一、概述电解水制取氢气的方法已有很久的历史。在工业生产上早有成熟的方法和设备。用电解氢气作为色谱仪的载气或燃气也有报导,一般多采用单级圆筒型结构[1]。这种形式存在结构笨重、发热严重等问题。近年来采用钯阴极电解氢气发生器作为色谱气源很有前途[2],但价格昂贵,工艺复杂,技术被美国垄断,目前尚

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  • 电子捕获检测器(上)

    周宝虹;厐增义;

    <正> 一、引言气相色谱用的检测器不断地呈新,至今已有廿余种[1][2],但从成熟应用之程度来比较,它们中间差距尚很大。热导池和氢焰检测器等,谓之气相色谱用基础检测器,技术成熟、应用广泛,是采用量最大的一类检测器。

    1974年02期 4-21页 [查看摘要][在线阅读][下载 1014K]
  • 电子捕获检测器(上)

    周宝虹;厐增义;

    <正> 一、引言气相色谱用的检测器不断地呈新,至今已有廿余种[1][2],但从成熟应用之程度来比较,它们中间差距尚很大。热导池和氢焰检测器等,谓之气相色谱用基础检测器,技术成熟、应用广泛,是采用量最大的一类检测器。

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  • 质谱仪器及其应用(八)

    季欧;

    <正> 第十章电技术无论从工作原理方面把质谱仪器看成电磁式分析仪器(例如,常见的扇形磁场式静态质谱计)或电真空器件(例如,图4—14表示的静电质谱计等动态质谱仪器),或从仪器用途方面把质谱仪器当作非电量(气体压强、化学成份、同位素比值等)的电测仪器,都说明质

    1974年02期 22-50页 [查看摘要][在线阅读][下载 1598K]
  • 质谱仪器及其应用(八)

    季欧;

    <正> 第十章电技术无论从工作原理方面把质谱仪器看成电磁式分析仪器(例如,常见的扇形磁场式静态质谱计)或电真空器件(例如,图4—14表示的静电质谱计等动态质谱仪器),或从仪器用途方面把质谱仪器当作非电量(气体压强、化学成份、同位素比值等)的电测仪器,都说明质

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  • 热磁式氧气分析器(六)

    李选培;

    <正> 第七章热磁式氧分析器的调整及刻度校正一般地说自动气体分析仪器的调整、校正是相当复杂而繁重的工作。因为一般仪器仪表如电工仪表、热工仪表等目前都有一定的国家基准或工厂标准,只要将被调整的仪表和标准表进行比较,就可以确定刻度。但气体分析仪器却不能这样作,因为一方面目前国家没有气体的标准,其次仪器所分析的气体一般皆不是简单的两元混合气体,多数混合气体具有三种、四种以上的成份,而其中多数非测量组份对仪器的分析精度具有一定影响,另外分析仪器的误差因素较多,也给仪器调校工作带来很

    1974年02期 50-57页 [查看摘要][在线阅读][下载 406K]
  • 热磁式氧气分析器(六)

    李选培;

    <正> 第七章热磁式氧分析器的调整及刻度校正一般地说自动气体分析仪器的调整、校正是相当复杂而繁重的工作。因为一般仪器仪表如电工仪表、热工仪表等目前都有一定的国家基准或工厂标准,只要将被调整的仪表和标准表进行比较,就可以确定刻度。但气体分析仪器却不能这样作,因为一方面目前国家没有气体的标准,其次仪器所分析的气体一般皆不是简单的两元混合气体,多数混合气体具有三种、四种以上的成份,而其中多数非测量组份对仪器的分析精度具有一定影响,另外分析仪器的误差因素较多,也给仪器调校工作带来很

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  • 碳化尾气CO_2〔0—3.5%〕自动分析器

    <正> 一、概述化肥厂中碳化工段的尾气出口中的CO_2含量的分析是依靠奥氏分析器用人工来进行分析的,尾气中CO_2的含量超过一定时会迅速影响到整个车间的生产正常进行,它使后工段的微量造成不合格,而减量生产或更严重。本来是15分钟取样分析一次,但往往不能满足工艺操作的要求,经常需要连续不断取样分析,劳动

    1974年02期 58-62页 [查看摘要][在线阅读][下载 239K]
  • 碳化尾气CO_2〔0—3.5%〕自动分析器

    <正> 一、概述化肥厂中碳化工段的尾气出口中的CO_2含量的分析是依靠奥氏分析器用人工来进行分析的,尾气中CO_2的含量超过一定时会迅速影响到整个车间的生产正常进行,它使后工段的微量造成不合格,而减量生产或更严重。本来是15分钟取样分析一次,但往往不能满足工艺操作的要求,经常需要连续不断取样分析,劳动

    1974年02期 58-62页 [查看摘要][在线阅读][下载 239K]
  • 逻辑试验器

    王德云;

    <正> 众所周知,在数字电路中是以电位的高低来表示数码的,例如在TTL型集成电路中,“1”的逻辑电平约为+3.3伏,“0”的逻辑电平约为0.2伏。所以,逻辑电路的静态测试就归结为测定各特征点的电位高低了。下面提出一种简单实用的逻辑测试电路。(参阅图

    1974年02期 62-63页 [查看摘要][在线阅读][下载 49K]
  • 逻辑试验器

    王德云;

    <正> 众所周知,在数字电路中是以电位的高低来表示数码的,例如在TTL型集成电路中,“1”的逻辑电平约为+3.3伏,“0”的逻辑电平约为0.2伏。所以,逻辑电路的静态测试就归结为测定各特征点的电位高低了。下面提出一种简单实用的逻辑测试电路。(参阅图

    1974年02期 62-63页 [查看摘要][在线阅读][下载 49K]
  • 关于60兆赫高分辨核磁共振波谱仪试制阶段总结座谈会

    李杰森;

    <正> 在全国批林批孔的高潮中,为完成国家规定的“四五”期间将60兆赫核磁共振波谱仪定型生产,以适应我国科研国防和生产之需要,为中国革命和世界革命作出贡献。为此,北京分析仪器厂会同科学院吉林应用化学研究所,北京化工厂共同发起,于2月19日至21日在北京分析仪器厂召开60兆赫高分辨核磁共振波谱仪试制工作阶段总结会议,邀请了全国使用

    1974年02期 64-65页 [查看摘要][在线阅读][下载 72K]
  • 关于60兆赫高分辨核磁共振波谱仪试制阶段总结座谈会

    李杰森;

    <正> 在全国批林批孔的高潮中,为完成国家规定的“四五”期间将60兆赫核磁共振波谱仪定型生产,以适应我国科研国防和生产之需要,为中国革命和世界革命作出贡献。为此,北京分析仪器厂会同科学院吉林应用化学研究所,北京化工厂共同发起,于2月19日至21日在北京分析仪器厂召开60兆赫高分辨核磁共振波谱仪试制工作阶段总结会议,邀请了全国使用

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  • 比质谱检漏仪灵敏度高10~(-5)倍的氦漏测量法

    L Verheyd■n;K Klein;C Crou■;

    <正> 氦泄漏检测的真实极限,是由质谱检漏仪对氦的最高灵敏度所决定的,可以认为是10~(-10)大气压毫升/秒。这种检漏仪的输出,受质谱管处所形成的真空度之影响很强。本文所提出的方法,可使漏泄测量容许范围比质谱检漏仪的真实测量极限还要延伸10~(-5)倍。方法的根据是,将发生在整个同时的漏泄之累积与背景累积相比较。本文叙述了相当复杂的操作技巧,并认为这样谈法易于使读者熟悉这门技术。

    1974年02期 66-70页 [查看摘要][在线阅读][下载 286K]
  • 比质谱检漏仪灵敏度高10~(-5)倍的氦漏测量法

    L Verheyd■n;K Klein;C Crou■;

    <正> 氦泄漏检测的真实极限,是由质谱检漏仪对氦的最高灵敏度所决定的,可以认为是10~(-10)大气压毫升/秒。这种检漏仪的输出,受质谱管处所形成的真空度之影响很强。本文所提出的方法,可使漏泄测量容许范围比质谱检漏仪的真实测量极限还要延伸10~(-5)倍。方法的根据是,将发生在整个同时的漏泄之累积与背景累积相比较。本文叙述了相当复杂的操作技巧,并认为这样谈法易于使读者熟悉这门技术。

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  • 用β射线散射测定露点的新方法

    Hisanobu Kobayashi;张选君;

    <正> 作者先前设了α射线辐射吸收法的露点湿度计[1,2]和熔点测量[3]。在本装置中应用的原理是利用β射线在雾覆盖的金属表面上散射的减少。β射线散射的减少是由于散射表面材料有效原子序数的减少引起,因为金属通常地有大的原子序数,而组成雾的元素具有小的原子序数。要实现这个原理会碰到许多困难。首先雾一开始形成,它大约是10~(-4)g/cm~2,只引起β射线散射很少的变化。因此,为了使变化尽可

    1974年02期 70-71页 [查看摘要][在线阅读][下载 107K]
  • 用β射线散射测定露点的新方法

    Hisanobu Kobayashi;张选君;

    <正> 作者先前设了α射线辐射吸收法的露点湿度计[1,2]和熔点测量[3]。在本装置中应用的原理是利用β射线在雾覆盖的金属表面上散射的减少。β射线散射的减少是由于散射表面材料有效原子序数的减少引起,因为金属通常地有大的原子序数,而组成雾的元素具有小的原子序数。要实现这个原理会碰到许多困难。首先雾一开始形成,它大约是10~(-4)g/cm~2,只引起β射线散射很少的变化。因此,为了使变化尽可

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  • 关于用相对电导法测定二氧化碳的评论

    W. Bartscher und W. Schmidts;韩继岭;

    <正> 关于测定二氧化碳,像根据燃烧过程测定碳的方法,或根据Schutze[11]、Zimmermann[16]和Unterzaucher[14]有关测定氧的著作中所提到的一样,大多采用相对电导法。例如,Koch和Malissa[5]应用这种方法测定了钢和铁中的碳。Malissa[6] 应用这种方法首次测定了

    1974年02期 71-76页 [查看摘要][在线阅读][下载 335K]
  • 关于用相对电导法测定二氧化碳的评论

    W. Bartscher und W. Schmidts;韩继岭;

    <正> 关于测定二氧化碳,像根据燃烧过程测定碳的方法,或根据Schutze[11]、Zimmermann[16]和Unterzaucher[14]有关测定氧的著作中所提到的一样,大多采用相对电导法。例如,Koch和Malissa[5]应用这种方法测定了钢和铁中的碳。Malissa[6] 应用这种方法首次测定了

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  • 用场致电离质谱法进行表面研究

    H. D. Beckey;F. W. Rollgen;欧夏民;

    <正> 表面过程在真空科学中起着重要作用,场致电离(FI)质谱计对这种过程的研究是一种多用途的工具。本文评论了(1)FI质谱计的实验技术,不同类型的发射极及其特殊用途(产生高达5×10~8伏/厘米场强的金属针尖;研究金属表面催化反应的锋利的金属刀片或箔片;用于一般分析的由有机微针状体覆盖着的细金属丝)。带有发射极和样品闸锁装置的FI源。FI质谱计的类型。(2) 在强电场中有

    1974年02期 77-83页 [查看摘要][在线阅读][下载 337K]
  • 用场致电离质谱法进行表面研究

    H. D. Beckey;F. W. Rollgen;欧夏民;

    <正> 表面过程在真空科学中起着重要作用,场致电离(FI)质谱计对这种过程的研究是一种多用途的工具。本文评论了(1)FI质谱计的实验技术,不同类型的发射极及其特殊用途(产生高达5×10~8伏/厘米场强的金属针尖;研究金属表面催化反应的锋利的金属刀片或箔片;用于一般分析的由有机微针状体覆盖着的细金属丝)。带有发射极和样品闸锁装置的FI源。FI质谱计的类型。(2) 在强电场中有

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